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供应美国X-RAY膜厚测试仪

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    半导体博曼(BOWMAN)膜厚测试仪可测量:单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费,应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素,深圳市金东霖科技有限公司是美国博曼X射线镀层膜厚测试仪中国区一级专业资深代理商,集销售、保养、校正(调试)及维修等专业服务一体化 ,让客户满意是我们金东霖科技始终的目标!



.BOWMAN膜厚测试仪检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费. 典型的應用範圍如下:

单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。

二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。

三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。

双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。

双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。

.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素

(BOWMAN)博曼膜厚测试仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意,为客户创造*大的价值是金东霖追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图,有需要的朋友请联系周小姐,联系电话:0755-29371651

 
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